Blktrace是一个用户态的工具，用来收集磁盘IO信息中当IO进行到块设备层（block层，所以叫blk trace）时的详细信息（如IO请求提交，入队，合并，完成等等一些列的信息）。
blktrace 工具 主要根据用户输入的磁盘设备，收集这个设备上每个IO调度情况，收集的过程是交给当前服务器的每一个core来做的，最后每一个core将各自处理的请求 收集到的结果保存在一个binary文件中。
sudo blktrace -d /dev/nvme0n1 -o nvme-trace -w 60 收集设备/dev/nvme0n1上的io 情况 60秒，将结果保存到nvme-trace文件中。
blkparse 工具 主要是将之前抓取的多个core的binary文件合并为一个文件
blkparse -i nvme-trace -d nvme-trace.bin -o nvme-trace.txt ，将nvme-trace开头的所有文件合并为一个nvme-trace.bin，这个过程中的输出放在nvme-trace.txt中。
btt工具，blkparse 解析的数据文件 虽然已经有了一些汇总信息，但还是不易读，比如我们想知道磁盘I/O在每一个阶段耗时分布，从blkparse的解析中很难看出来的。
通过btt工具来进行计算:
btt -i nvme-trace.bin -o btt.txt
有抓取的I/O的历史数据，那同样可以用iowather来将历史的io变化情况用图形展示出来，包括磁盘带宽、延时等
iowatcher -t nvme-trace.bin -o nvme-trace.svg 解析blkparse合并的文件，输出到nvme-trace.svg中
【苹果新专利：把 Mac 塞进妙控键盘里】
#苹果# #科技#
据 MacRumors 消息，苹果一项新专利出现在了美国专利商标局，名为“输入设备中的计算机”，简单来说就是把 Mac 塞进了妙控键盘里。
根据该专利的描述，这款设备像是加厚的妙控键盘，内部集成了“高性能计算机的所有组件”，可以通过一个用于接收数据和电源的接口连接显示器。
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自动化设备现场电工维修的核心，就是要以PLC控制器为中心，输入输出两大外围元件为主线，进行故障的处理和判断。下面我先来讲一下输入输出设备主要有哪些，以及检测确认方法。
如果输入元件条件没有满足，后续的电磁阀、电机、机械臂等根据就无法动作，所以输入设备的故障是整个电气自动化设备故障率最高的部分，能够熟练掌握并查找发现问题，只要用心琢磨也并不是什么大问题。
在设备现场的输入元器件有：
按钮:点动按钮、二位自复位按钮、急停带锁按钮、三位按钮，常开型、常闭型，开闭组合型等
接近开关：感应式（常开型、常闭型）(NPN、PNP)，光电反射型等。
限位开关:推杆式、摆杆式、自复位式，机械式等位置开关等。
传感器：压力传感器、液位传感器、电流电压信号、热电偶温度传感器、酸碱度传感器、过滤器信号等。
触摸屏等人机界面。
输出设备主要有：电机（直流、交流电机）、电磁阀（气动阀、液压阀、伺服阀）、报警灯、接触器（交流、直流，380V/220V/36V/24V）、音箱系统、显示屏等。
输入输出设备信号的确认，有经验的技术人员，首先是通过人机界面来看有无报警提示，可以找到问题出在哪里；其次是通过PLC模块的输入输出指示灯进行确认输入输出信号是否正确，同时可以结合万用表等进行检测进一步确认。像开关按钮接头松动、失灵，输出控制线路老化断路等故障也是比较多。有时候PLC模块本身也会损坏，但相对较少。
存储器是一种数据存储设备，而外设则是一种输入/输出设备。
然而，许多微型计算机以同样的方式处理内存和外设，因为它们使用了一种称为内存映射I/O（输入/输出）的设计。
通过这种设计，外围设备，如数据终端，相当于对CPU的存储器，因此向外围设备发送数据就像将数据写入存储器位置一样简单。
在这种微型计算机取代某些数字逻辑的系统中，数字输入通过指定的存储槽进入计算机。
如果需要输出，它们会通过另一个指定的内存插槽退出计算机。
程序员（为特定任务编写指令序列的人）使用系统中使用的微处理器模型（编程模型）。
这个模型显示了在CPU中的寄存器可用于程序使用，以及寄存器执行什么功能。
通过举例说明，下图显示了一个典型的8位（现已过时）微计算机的编程模型微处理器。
该计算机有两个8位寄存器和三个16位寄存器。
后面将讨论16位寄存器；这里将讨论8位寄存器。
累加器
其中一个8位寄存器是一个累加器，它是一个用于算术和逻辑运算的通用寄存器。
累加器可以加载来自存储器位置的数据，或者其数据可以存储在存储器位置中。
累加器中保存的数字可以添加到、减去或与内存中的另一个数字进行比较。
累加器是计算机的基本工作寄存器，它通常被称为A寄存器。
另一个8位寄存器，条件代码（CC）寄存器（也称为状态寄存器），指示或标记在累加器操作期间发生的某些条件。
在微处理器的设计中建立了规则，使CC寄存器的位位置上的1或0表示在累加器的最后一次操作中发生的特定条件。
CC寄存器的一个位表示A寄存器都为零。
另一位，即携带位，表示在累加器上执行的最后一次操作导致了携带位的发生。
承载位就像累加器的第九位，请注意，当我们在二进制文件中添加1到255时会发生什么：
累加器中的8个位都是零，但是携带位被设置为1（高）表明结果实际上不是0，而是256。
这种条件可以通过检查一个1的CC寄存器携带位来检查。
条件码寄存器还提供了一个标志，当设置为1时，表示累加器中的数字是负的。
大多数微型计算机使用一种叫做，二二的补数符号的二进制格式来进行算术。
在2的补体符号中，最左边的位表示该数字的符号。
由于将8位中的一个用于符号，因此仍然保留7位（如果使用16位，则为15位）来表示数字的大小。
在有8位的两个补体中可以表示的最大正数是+127（或16位的+32,767）；最大的负数是-128（-32,768）。
由于示例累加器只有8位宽，所以它一次只能处理1个字节。
然而，通过组合字节并按时间序列依次操作（如16位算法所做的），计算机可以处理非常大的数字或可以获得更高的计算精度。
按时间顺序依次处理位或字节称为串行操作。
CC寄存器为程序员提供了状态指示器（标志），使他们能够在程序执行指令时监视数据所发生的情况。
微机有特殊的指令，允许它进入程序的不同部分。
程序分支可以是有条件的，也可以是无条件的。
在下图中列出的9个分支指令中，有8条是有条件的分支，也就是说，只有在满足某些条件时，才会采用该分支。
这些条件由如图所示的CC寄存器位表示，分支总是指令是唯一的无条件的分支。
这样的分支用于围绕下一条指令分支到以后的指令或返回到早期的指令。
另一种类型的分支指令将计算机的正常程序序列表示CC寄存器的I位。
它与一个中断相关联。
中断是一种请求，通常来自一个输入或输出（I/ O）外围设备，即CPU停止它正在做的事情，并接受或照顾（服务）这个特殊的请求。
有人用凌宝APP绑定过车辆吗？设备号是什么？输入发动机号不行！
啊 对对对 呵呵//@优雅乐观的蛋糕:要有判断能力。//@ODST001:人家说啥就是啥//@优雅乐观的蛋糕:只计算输入激光的能量？维持设备正常工作的所需其它能量呢？约束控制聚变的装置不需要输入能量吗？
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央视新闻12月13日发布，美国首次成功在核聚变反应中实现“净能量增益”，预计或将在实现零碳排放能源的进程中迈出关键一步
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【#全球要闻汇编#】有爆炸风险！俄气称“北溪-1”设备漏油必须停；注意！香港出现首例猴痘输入病例。网页链接
整理家里发现一个这个，如下图，有知道这个是什么吗？可以在评论区给我留言。
个人感觉是一台视频采集和视频转换设备，不知道可以用来录制游戏视频吧？还有就是这个设备不太清楚怎么接，只知道输入口接游戏机，输出口接电视机，怎么接电脑或存储设备。如果有这方面的教程可以提供一下那就更好了。
虹润 数显表4-20ma OHR-A103系列温度控制仪
概述
虹润OHR-A103系列温度控制仪采用模块化结构、操作方便、性价比高，适用于轻工机械、烘箱、实验设备、加热/冷却等控温范围在0～999℃的对象。
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★具备多种外形尺寸及样式供用户选择。
★参数设定密码锁定，参数设置断电永久保存。
Nature Communication: 超灵敏柔性压力传感器
超高灵敏压力传感器在医疗监控、电子皮肤和交互式输入/控制设备中提供了广泛的应用。下一代超高灵敏压力传感器的目标是在简单的接触中通过不同的压力变化模式识别不同的物体。为了实现这一点，一个可连续记录、温度不干涉和高分辨率的超高灵敏压力传感器是很需要的。压阻法是制造压力传感器的最常见方法，这是因为其结构简单、信号易于读取以及潜在的高灵敏度。尽管压阻传感器取得了长足的进步，但迄今为止，它们所依赖的转导机制基本上没有改变。由压缩过程中减小的颗粒间距导致的固有电阻变化用于测量施加的压力。这种类型的压力传感器通常显示出良好的灵敏度，但是由于弹性膨胀而响应缓慢，并且由于热膨胀而容易受到温度波动的影响。此外，这种压力传感器可能会产生串扰信号，限制其感应密度。针对该问题，复旦大学武利民教授课题组开发了一种基于Fowler-Nordheim隧穿效应的设计思想，通过旋涂分散在聚二甲基硅氧烷中的极低含量的海胆状空心碳球（小于1.5 wt%）来制造具有超高灵敏度和感测密度的压力传感器。与以往报道的压力传感器的转导机制不同，该传感器在1 Pa时具有260.3 kPa-1的超高灵敏度、400 cm-2的高感测密度、高透明度和温度无干扰特性。另外，它可以通过工业上可行且可扩展的旋涂方法来制造，从而为实现超高灵敏度柔性压力传感器在各种表面和体内环境中的大规模生产和应用提供了有效途径。
图1.薄膜传感器的制造和特性
图2. 薄膜传感器的弹性和电阻行为
参考文献：
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